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      探頭




      量程




      低端
      分辨率




      誤差




      最小曲率
      半徑(凸/凹)




      最小測量
      區域直徑




      最小基
      體厚度




      探頭尺寸




























      F05




      0-500μm




      0.1μm




      ±(1%±0.7μm)




      1/5mm




      3mm




      0.2mm




      φ15x62mm






      F1.6




      0-1600μm




      0.1μm




      ±(1%±1μm)




      1.5/10mm




      5mm




      0.5mm




      φ15x62mm






      F1.6/90




      0-1600μm




      0.1μm




      ±(1%±1μm)




      平面/6mm




      5mm




      0.5mm




      φ8x170mm






      F3




      0-3000μm




      0.2μm




      ±(1%±1μm)




      1.5/10mm




      5mm




      0.5mm




      φ15x62mm






      F10




      0-10mm




      5μm




      ±(1%±10μm)




      5/16mm




      20mm




      1mm




      φ25x46mm






      F20




      0-20mm




      10μm




      ±(1%±10μm)




      10/30mm




      40mm




      2mm




      φ40x66mm






      F50




      0-50mm




      10μm




      ±(3%±50μm)




      50/200mm




      300mm




      2mm




      φ45x70mm
















      FN1.6




      0-1600μm




      0.1μm




      ±(1%±1μm)




      1.5/10mm




      5mm




      F0.5mm
      N50μm




      φ15x62mm






      FN1.6P




      0-1600μm




      0.1μm




      ±(1%±1μm)




      平面




      30mm




      F0.5mm
      N50μm




      φ21x89mm






      FN2




      0-2000μm




      0.2μm




      ±(1%±1μm)




      1.5/10mm




      5mm




      F0.5mm
      N50μm




      φ15x62mm
































      N02




      0-200μm




      0.1μm




      ±(1%±0.5μm)




      1/10mm




      2mm




      50μm




      φ16x70mm






      N.08Cr




      0-80μm




      0.1μm




      ±(1%±1μm)




      2.5mm




      2mm




      100μm




      φ15x62mm






      N1.6




      0-1600μm




      0.1μm




      ±(1%±1μm)




      1.5/10mm




      2mm




      50μm




      φ15x62mm






      N1.6/90




      0-1600μm




      0.1μm




      ±(1%±1μm)




      平面/10mm




      5mm




      50μm




      φ13x170mm






      N10




      0-10mm




      10μm




      ±(1%±25μm)




      25/100mm




      50mm




      50μm




      φ60x50mm






      N20




      0-20mm




      10μm




      ±(1%±50μm)




      25/100mm




      70mm




      50μm




      φ65x75mm






      N100




      0-100mm




      100μm




      ±(1%±0.3mm)




      100mm/平面




      200mm




      50μm




      φ126x155mm






      CN02




      10-200μm




      0.2μm




      ±(1%±1μm)




      平面




      7mm




      無限制




      φ17x80mm




      MiniTest1100,MiniTest1100
      產品型號:MiniTest1100
      產品代碼:
      產品價格:
      折 扣 率: 0
      最后更新:2013-07-22
      關 注 度:3406
      生產企業:上海鼎徵儀器儀表設備有限公司
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      MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀功能 
       




      型號



      1100




      2100




      3100




      4100





      MINITEST 存儲的數據量 




      應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)



      1




      1




      10




      99





      每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計,可設寬容度極限值)



      -




      1




      10




      99





      可用各自的日期和時間標識特性的組數



      -




      1




      500




      500





      數據總量



      1




      10000




      10000




      10000





      MINITEST統計計算功能 




      讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar



      -




















      讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk



      -




      -















      組統計值六種x,s,n,max,min,kvar



      -




      -















      組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk



      -




      -















      存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據



      -




      -




      -










      分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值



      -




      -















      顯示并打印測量值、打印的日期和時間



      -




















      其他功能 




      透過涂層進行校準(CTC)



      -
























      在粗糙表面上作平均零校準
























      利用計算機進行基礎校準
























      補償一個常數(Offset)



      -




      -















      外設的讀值傳輸存儲功能



      -




















      保護并鎖定校準設置
























      更換電池是存儲數值
























      設置極限值



      -




      -



















      公英制轉換
























      連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值



      -




      -



















      連續測量模式中測量穩定后顯示讀數



      -




      -



















      浮點和定點方式數據傳送
























      組內單值延遲顯示



      -




















      連續測量模式中顯示最小值




























      產品詳細介紹

      德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
      MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
      所有型號均可配所有探頭;
      可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
      可使用一片或二片標準箔校準。





      可選探頭參數(探頭圖示)
      所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
      F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
      N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
      FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
       






      注:


      F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
      N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
      CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 





      探頭圖示







      FN1.6
      0~1600μm,φ5mm
      兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
      量程低端分辨率很高(0.1μm)









      FN1.6P
      0~1600μm,φ30mm
      兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度










      F05
      0~500μm,φ3mm
      磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
      量程低端分辨宰很高(0.1μm)









      F1.6
      0~1600μm,φ5mm
      磁性測頭
      量程低端分辨率很高(0.1μm)









      F3
      0~3000μm,φ5mm
      磁性測頭
      可用于較厚的覆層









      F1.6/90
      0~1600μm,φ5mm
      90度磁性測頭
      尤其適合于在管內壁測量
      量程低端分辨率很高(0.1μm)









      F10
      0~10mm,φ20mm
      適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等










      F20
      0~20mm,φ40mm
      適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等 









      F50
      0~50mm,φ300mm
      適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層









      N02
      0~200μm,φ2mm
      非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
      量程低端分辨率很高(0.1μm)









      N0.8Cr
      0~80μm,φ2mm
      適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層









      N1.6
      0~1600μm,φ2mm
      非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
      量程低端分辨率很高(0.1μm)









      N1.6/90
      0~1600μm,φ5mm
      磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
      尤其適合在管內壁測量
      量程低端分辨率很高(0.1μm)









      N10
      0~10mm,φ50mm
      非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等









      N20
      0~20mm,φ70mm
      非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等









      N100
      0~100mm,200mm
      非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等








      CN02
      10~200μm,φ7mm
      用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板







      上海鼎徵儀器儀表設備有限公司
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      加入時間:2013-07-22
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